本报告介绍了Sandisk / TOSHIBA 256 Gbit TLC的内部波形分析（每个单元格3位）48L 3D NAND闪存在SDSQUNI-256G-AN6MA组件内找到。该波形分析提供了在设备以多平面模式下运行的同时编程，读取和擦除闪存单元所需的内部电压的详细信息。波形分析在多个平面程序，多平面读取和多平面擦除操作期间记录监测信号的电压探测器中的波形分析。TechInsights已经提取并分析了所需的电路部分，以确定将所需的测试纤维垫放置在哪里并定位探头点。将FIB焊盘仅放置在所选择的信号上，仅在闪存的一个存储器平面上并在设备以多平面模式操作时进行测试。
该报告包含一组获取的波形和注释照片，分为以下部分：
该报告包含一组获取的波形和注释照片，分为以下部分：
- 建筑概要
- 多平面波形分析
- 原理图
- 测试程序
- 主要发现
- 标准细胞
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我们的分析尽可能深入地揭示了广泛产品背后的内部工作和秘密。