联系我们 产品代码 AME-1708-802 发布日期 2017/11/29. 可用性 发表 产品项目代码 Sam-Klucg4J1CB-B0B1 设备制造商 三星 设备类型 闪 订阅 记忆 - NAND＆DRAM 渠道 记忆 - 过程 报告代码 AME-1708-802 本产品介绍了Samsung Klucg4J1CB-B0B1 NAND通用闪存（UFS）设备中的14个NM过程的高级内存要素。 login or register as a guest.">查看目录 login or register as a guest.">下载示例报告 您需要的内存分析 巨大的前期研发投资要求客户具有最新和准确的竞争情报。弄清楚首先开发产品策略的挑战。 了解更多 搜索我们的分析和网站 立即开始搜索我们的图书馆 提交 相关分析 制造商. 分析类型 订阅频道 Samsung K4A8G085WD-BCTD 1Y DDR4 DRAM上的CIRCHNVISION分析（完整）（带Cadence文件） 三星 电路 内存 - DRAM电路分析 Nanya 20nm DDR4 4GB D-Die Memory Plandplan分析 南大科技公司 平面图 记忆 - DRAM FloorPlan分析 Micron 1Y GDDR6X记忆平面图分析 微米技术 平面图 记忆 - DRAM FloorPlan分析 三星128L NAND DIE（K9AFGD8U0C）高级内存要素 三星 处理 记忆 - 过程 三星128L NAND DIE（K9AFGD8U0C）内存周边设计 三星 电路 记忆 - NAND外围设计 三星128L NAND模具（K9AFGD8U0C）工艺流程分析 三星 电路 记忆 - 过程流程分析 三星128L NAND DIE（K9AFGD8U0C）流量充分 三星 处理 记忆 - 过程流程分析 三星K9AFGD8U0C 128L NAND模具记忆平面图分析 三星 平面图 记忆 - NAND FloorPlan分析 Kioxia 96L QLC 3D NAND闪存外围设计 - NAND 沙夹 电路 记忆 - NAND外围设计 三星1Y LPDDR4X SDRAM（K3UH7H70AM-AGCL）8 GB电路分析 三星 电路 内存 - DRAM电路分析
